PMCL-AC55TS

Revêtement d'or face reflex
Fréquence de résonance (F) : 1125 kHz
Constante du raideur (K) : 85 N/m

Vendu en paquets de 25

PMCL-AC55TS: Pointe AFM de remplacement OMCL-AC55TS*

Cette pointe PMCL-AC55TS est conçue comme un remplacement direct pour les microleviers de la série OLYMPUS OMCL-AC55, assurant une compatibilité parfaite avec la plupart des systèmes AFM configurés pour les pointes de type Olympus. Ce modèle présente une fréquence de résonance élevée dans la gamme des mégahertz et un faible bruit thermique, permettant des mesures à haute vitesse et haute résolution des interfaces liquide-solide.

Caractéristiques principales

Pointe effilée pour l'imagerie haute résolution
La géométrie tétraédrique de la sonde offre une pointe effilée et constamment acérée. L'apex est affûté sur plus de 1 µm, permettant une imagerie de surface haute résolution.

Structure d'alignement TipView
La sonde est positionnée à l'extrémité du levier, garantissant que l'apex de la pointe reste entièrement visible sous un microscope optique pour un positionnement précis.

Silicium dopé de type n à faible résistivité
Le levier est fabriqué à partir de silicium dopé de type n avec une très faible résistivité (0,01–0,02 Ω·cm). Cela améliore considérablement la conductivité électrique et permet d'utiliser la sonde pour des mesures électriques telles que la cartographie du potentiel de surface et d'autres applications AFM conductrices.

Faible bruit thermique pour l'imagerie à haute vitesse et haute résolution
Grâce à une fréquence de résonance élevée et un faible bruit thermique, la PMCL-AC55TS permet un fonctionnement AFM à haute vitesse avec une résolution exceptionnelle. Elle est bien adaptée aux études de matériaux avancés, y compris les mesures d'interfaces liquide-solide.

Revêtement réfléchissant Or/Chrome
La face réfléchissante du levier est revêtue d'or-chrome pour assurer une réflectivité optique élevée pour le système de détection laser AFM. Les revêtements en or offrent une stabilité chimique améliorée par rapport aux revêtements conventionnels en aluminium et peuvent offrir des performances accrues dans des environnements spécialisés.

*Avec l'arrêt des pointes AFM de la série OMCL par Olympus Corporation, Nouveltica propose des alternatives entièrement compatibles pour assurer la continuité des mesures AFM.
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Spécifications techniques

Cantilever
Forme Rectangulaire
Dimensions (L × l × É) 55 × 31 × 1.9 µm
Fréquence de résonance 1125 kHz (typ.)
Constante de rappel 85 N/m
Matériau silicium dopé de type n (0.01–0.02 Ω·cm)
Pointe
Forme Tétraédrique affûtée, structure “ TipView ”
Longueur de la pointe 12 µm
Rayon de la pointe ~7 nm (typ.)
Angle de la pointe (avant)
Angle de la pointe (arrière) 35°
Angle de la pointe (côté) Symétrique, demi-angle du cône <9°
Matériau Silicium dopé de type n (0,1–0,4 Ω·cm)