La microscopie à force atomique permet une cartographie haute résolution de la morphologie de surface à l'échelle nanométrique. Les sondes AFM fournissent des mesures précises de la rugosité de surface, de la hauteur de marche et des caractéristiques structurelles sur une large gamme de matériaux, y compris les semi-conducteurs, les films minces, les polymères et les échantillons biologiques.