PMCL-AC200TS: Pointe AFM de remplacement OMCL-AC200TS*
Le PMCL-AC200TS est une pointe haute performance pour remplacer le modèle OMCL-AC200TS, conçue pour le mode tapping et la microscopie à force atomique sans contact, assurant une compatibilité parfaite avec la plupart des systèmes AFM configurés pour les pointes de type Olympus. Elle peut être utilisée dans une large gamme d'applications en mode tapping et d'imagerie haute résolution, offrant des performances fiables pour la caractérisation de la morphologie de surface et l'analyse à l'échelle nanométrique.
Caractéristiques principales
Pointe effilée pour l'imagerie haute résolution
La géométrie tétraédrique de la sonde offre une pointe effilée et constamment acérée. L'apex est affûté sur plus de 1 µm, permettant une imagerie de surface haute résolution.
Structure d'alignement TipView
La sonde est positionnée à l'extrémité du levier, garantissant que l'apex de la pointe reste entièrement visible sous un microscope optique pour un positionnement précis.
Silicium dopé de type n à faible résistivité
Le levier est fabriqué à partir de silicium dopé de type n avec une très faible résistivité (0,01–0,02 Ω·cm). Cela améliore considérablement la conductivité électrique et permet d'utiliser la sonde pour des mesures électriques telles que la cartographie du potentiel de surface et d'autres applications AFM conductrices.
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*Avec l'arrêt des pointes AFM de la série OMCL par Olympus Corporation, Nouveltica propose des alternatives entièrement compatibles pour assurer la continuité des mesures AFM.
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